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  Electron microscopy study on structure of rolled-up semiconductor nanotubes

Jin-Phillipp, N. Y., Thomas, J., Kelsch, M., Deneke, C., Songmuang, R., & Schmidt, O. G. (2006). Electron microscopy study on structure of rolled-up semiconductor nanotubes. Applied Physics Letters, 88: 033113.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : APL

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jin-Phillipp, N. Y.1, 2, 3, Autor           
Thomas, J.1, 2, Autor           
Kelsch, M.1, 3, Autor           
Deneke, C.4, Autor
Songmuang, R.4, Autor
Schmidt, O. G.4, Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
4Max Planck Society, ou_persistent13              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; MPI für Festkörperforschung; Abt. Dosch/Rühle; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006-01-20
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 3 pages
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 264589
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Alternativer Titel : APL
Genre der Quelle: Zeitschrift
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 88 Artikelnummer: 033113 Start- / Endseite: - Identifikator: -