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  Lattice distortion analysis and its application to semiconductor quantum dot structures

Jin-Phillipp, N.-Y. (2006). Lattice distortion analysis and its application to semiconductor quantum dot structures. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 25(3), 190-199.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-45FE-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-45FF-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jin-Phillipp, N.-Y.1, 2, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006-03-25
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 298466
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Chinese Electron Microscopy Society
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 25 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 190 - 199 Identifikator: -