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  Low-loss EELS with monochromated electrons

Sigle, W., Gu, L., Srot, V., Koch, C., & van Aken, P. A. (2007). Low-loss EELS with monochromated electrons. Microscopy & Microanalysis, 13(Suppl. 3), 54-55.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-443C-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-443D-C
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, 2, Autor           
Gu, L.2, Autor           
Srot, V.1, 2, Autor           
Koch, C.1, 2, Autor           
van Aken, P. A.2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 320724
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 33rd Microscopy Conference MC 2007 - DGE Tagung (Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.)
Veranstaltungsort: Saarbrücken
Start-/Enddatum: 2007-09-02 - 2007-09-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy & Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 13 (Suppl. 3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 54 - 55 Identifikator: -