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  EELS investigations of reference niobium oxides and anodically grown niobium oxide layers

Bach, D., Störmer, H., Schneider, R., Gerthsen, D., & Sigle, W. (2007). EELS investigations of reference niobium oxides and anodically grown niobium oxide layers. In M. Marko, J. Scott, E. Vicenzi, S. Dekanich, J. Frafjord, P. Kotula, et al. (Eds.), Microscopy and Microanalysis 2007 (pp. 1274CD-1275CD). New York, USA: Cambridge University Press.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bach, D.1, Autor
Störmer, H.1, Autor
Schneider, R.1, Autor
Gerthsen, D.1, Autor
Sigle, W.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Laboratorium für Elektronenmikroskopie, Universität Karlsruhe (TH), Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 319198
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2007
Veranstaltungsort: Fort Lauderdale, Florida, USA
Start-/Enddatum: 2007-08-05 - 2007-08-09

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2007
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Marko, M., Herausgeber
Scott, J.H., Herausgeber
Vicenzi, E., Herausgeber
Dekanich, S., Herausgeber
Frafjord, J., Herausgeber
Kotula, P., Herausgeber
McKernan, S., Herausgeber
Shields, J., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, USA : Cambridge University Press
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1274CD - 1275CD Identifikator: -