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  The sub-electron-volt-sub-Angstrom-microscope (SESAM): Pushing the limits in monochromated and energy-filtered TEM

van Aken, P. A., Koch, C. T., Sigle, W., Höschen, R., Rühle, M., Essers, E., Benner, G., & Matijevic, M. (2007). The sub-electron-volt-sub-Angstrom-microscope (SESAM): Pushing the limits in monochromated and energy-filtered TEM. In M., Marko, J., Scott, E., Vicenzi, S., Dekanich, J., Frafjord, P., Kotula, V., McKernan, & J., Shields (Eds.), Microscopy and Microanalysis 2007 (pp. 862CD-863CD). New York, USA: Cambridge University Press.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43B5-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43B6-4
資料種別: 会議論文

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関連URL

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作成者

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 作成者:
van Aken, P. A.1, 著者           
Koch, C. T.1, 著者           
Sigle, W.1, 著者           
Höschen, R.1, 著者           
Rühle, M.2, 著者           
Essers, E.3, 著者
Benner, G.3, 著者
Matijevic, M.3, 著者
所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              
3Carl Zeiss SMT-NTS Division, Oberkochen, Germany, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2007
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり（内部）
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 319189
 学位: -

関連イベント

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イベント名: Microscopy and Microanalysis 2007
開催地: Fort Lauderdale, Florida, USA
開始日・終了日: 2007-08-05 - 2007-08-09

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Microscopy and Microanalysis 2007
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Marko, M., 編集者
Scott, J.H., 編集者
Vicenzi, E., 編集者
Dekanich, S., 編集者
Frafjord, J., 編集者
Kotula, P., 編集者
McKernan, V., 編集者
Shields, J., 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: New York, USA : Cambridge University Press
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 862CD - 863CD 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -