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  Band-gap measurements of direct and indirect semiconductors using monochromated electrons

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C., van Aken, P. A., Scholz, F., et al. (2007). Band-gap measurements of direct and indirect semiconductors using monochromated electrons. Physical Review B, 75: 195214.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gu, L.1, Autor           
Srot, V.1, 2, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C.1, 2, Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Scholz, F.3, Autor
Thapa, S. B.3, Autor
Kirchner, C.3, Autor
Jetter, M.3, Autor
Rühle, M.4, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Institute of Optoelectronics, University of Ulm, Ulm, Germany;Institut für Strahlenphysik, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
4Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 319136
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 75 Artikelnummer: 195214 Start- / Endseite: - Identifikator: -