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  Quantitative comparison of image contrast and pattern between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs

Du, K., von Hochmeister, K., & Phillipp, F. (2007). Quantitative comparison of image contrast and pattern between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs. Ultramicroscopy, 107, 281-292.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4345-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4346-D
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Du, K.1, Autor           
von Hochmeister, K.1, Autor           
Phillipp, F.2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 312472
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 107 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 281 - 292 Identifikator: -