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  VEELS band gap measurements using monochromated electrons

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C., & van Aken, P. (2008). VEELS band gap measurements using monochromated electrons. Journal of Physics: Conference Series, 126: 012005.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-415C-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-415D-F
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gu, L.1, Autor           
Srot, V.1, 2, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C.1, 2, Autor           
van Aken, P.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 391536
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Electron Microscopy and Analysis Group Conference 2007 (EMAG 2007)
Veranstaltungsort: Glasgow, UK
Start-/Enddatum: 2007-09-03 - 2007-09-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Physics: Conference Series
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 126 Artikelnummer: 012005 Start- / Endseite: - Identifikator: -