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  Origins of stress development during metal-induced crystallization and layer exchange: Annealing amorphous Ge/crystalline Al bilayers

Wang, Z. M., Wang, J. Y., Jeurgens, L. P. H., Phillipp, F., & Mittemeijer, E. J. (2008). Origins of stress development during metal-induced crystallization and layer exchange: Annealing amorphous Ge/crystalline Al bilayers. Acta Materialia, 56, 5047-5057.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-413C-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-413D-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wang, Z. M.1, Autor           
Wang, J. Y.1, Autor           
Jeurgens, L. P. H.1, Autor           
Phillipp, F.2, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497669              
3Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 379421
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Materialia
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 56 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 5047 - 5057 Identifikator: -