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  Analytical and high-resolution TEM investigation of boron-doped CeO2

Rahmati, B., Gregori, G., Sigle, W., Koch, C. T., van Aken, P. A., & Maier, J. (2008). Analytical and high-resolution TEM investigation of boron-doped CeO2. In S. Richter, & A. Schwedt (Eds.), EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science (pp. 565-566). Berlin [et al.]: Springer.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4100-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4101-E
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Rahmati, B.1, 2, Autor           
Gregori, G.3, Autor
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
van Aken, P. A.2, Autor           
Maier, J.3, Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Max Planck Society, ou_persistent13              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; MPI für Festkörperforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Maier;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 376667
URI: 10.1007/978-3-540-85226-1_283
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 14th European Microscopy Congress
Veranstaltungsort: Aachen, Germany
Start-/Enddatum: 2008-09-01 - 2008-09-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Richter, S., Herausgeber
Schwedt, A., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin [et al.] : Springer
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 565 - 566 Identifikator: -