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  Focused ion beam preparation of atome probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary

Perez-Willard, F., Wolde-Giorgis, D., Al-Kassab, T., López, G. A., Mittemeijer, E. J., Kirchheim, R., et al. (2008). Focused ion beam preparation of atome probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary. Micron, 39, 45-52.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Perez-Willard, F., Autor
Wolde-Giorgis, D., Autor
Al-Kassab, T., Autor
López, G. A.1, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Kirchheim, R., Autor
Gerthsen, D., Autor
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 372296
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Micron
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 39 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 45 - 52 Identifikator: -