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  Image matching between experimental and simulated high-resolution electron micrographs of sapphire on the [0110] orientation

Du, K., & Rühle, M. (2008). Image matching between experimental and simulated high-resolution electron micrographs of sapphire on the [0110] orientation. Journal of Microscopy, 232(1), 137-144. doi:10.1111/j.1365-2818.2008.02073.x.

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Urheber

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 Urheber:
Du, K., Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008-03-19
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 378641
DOI: 10.1111/j.1365-2818.2008.02073.x
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 232 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 137 - 144 Identifikator: -