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  Determination of the elastic modulus of mesoporous silica thin films by x-ray reflectivity via the capillary condensation of water

Dourdain, S., Britton, D. T., Reichert, H., & Gibaud, A. (2008). Determination of the elastic modulus of mesoporous silica thin films by x-ray reflectivity via the capillary condensation of water. Applied Physics Letters, 93: 183108. doi:10.1063/1.2996412.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dourdain, S.1, Autor
Britton, D. T.1, Autor
Reichert, H.2, Autor           
Gibaud, A.1, Autor
Affiliations:
1Structure et Propriété des Architectures Moléculaires, UMR 5819, CEA Grenobe, France; University of Cape Town, Private Bag Rondebosch 7701, South Africa; Laboratoire de Physique de l'Etat Condensé, UMR CNRS 6087, Université du Maine, 72085 Le Mans, France, ou_persistent22              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008-11-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 391596
DOI: 10.1063/1.2996412
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 93 Artikelnummer: 183108 Start- / Endseite: - Identifikator: -