Novel perspectives for the application of total internal reflection microscopy

Volpe, G.; Brettschneider, T.; Helden, L.; Bechinger, C.

doi:10.1364/OE.17.023975

Novel perspectives for the application of total internal reflection microscopy

Volpe, G., Brettschneider, T., Helden, L., & Bechinger, C. (2009). Novel perspectives for the application of total internal reflection microscopy. Optics Express, 17(26), 23975-23985. doi:10.1364/OE.17.023975.

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資料種別: 学術論文

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Volpe, G.¹, 著者
Brettschneider, T.¹, 著者
Helden, L., 著者
Bechinger, C.¹, 著者

所属:
1Max Planck Fellow Group Soft Matter, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497658

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Max Planck Fellow Bechinger;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 466088
DOI: 10.1364/OE.17.023975

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Optics Express

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 17 (26) 通巻号: - 開始・終了ページ: 23975 - 23985 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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