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  EELS of niobium and stoichiometric niobium-oxide phases — part I: Plasmon and near-edges fine structure

Bach, D., Schneider, R., Gerthsen, D., Verbeeck, J., & Sigle, W. (2009). EELS of niobium and stoichiometric niobium-oxide phases — part I: Plasmon and near-edges fine structure. Microscopy and Microanalysis, 15, 505-523. doi:10.1017/S143192760999105X.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E6C-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E6D-6
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Microsc. Microanal.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bach, D.1, Autor
Schneider, R.1, Autor
Gerthsen, D.1, Autor
Verbeeck, J.1, Autor
Sigle, W.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Laboratorium für Elektronenmikroskopie, Universität Karlsruhe (TH), D-76128 Karlsruhe, Germany; Electron Microscopy for Materials Research (EMAT), University of Antwerp, Groenenborgerlaan 171, 2020 Antwerp, Belgium., ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 442627
DOI: 10.1017/S143192760999105X
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 15 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 505 - 523 Identifikator: -