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  EFTEM tomography on nanomaterials

Jin-Phillipp, N. Y., Koch, C. T., & van Aken, P. A. (2009). EFTEM tomography on nanomaterials. In G. Kothleitner, & M. Leisch (Eds.), MC2009. Vol. 1: Instrumentation and Methodology (pp. 73-74). Graz: Verlag der Technischen Universität Graz, Austria.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jin-Phillipp, N. Y.1, 2, 3, Autor           
Koch, C. T.1, 3, Autor           
van Aken, P. A.3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 435823
DOI: 10.3217/978-3-85125-062-6-035
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: MC2009, Microscopy Conference
Veranstaltungsort: Graz, Austria
Start-/Enddatum: 2009-08-30 - 2009-09-04

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: MC2009. Vol. 1: Instrumentation and Methodology
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Kothleitner, G., Herausgeber
Leisch, M., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Graz : Verlag der Technischen Universität Graz, Austria
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 73 - 74 Identifikator: -