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  Annealing effect on ion conduction of nanosized CaF2/BaF2 multilayers

Guo, X. X., Matei, I., Jin-Phillipp, N. Y., van Aken, P. A., & Maier, J. (2009). Annealing effect on ion conduction of nanosized CaF2/BaF2 multilayers. Journal of Applied Physics, 105: 114321. doi:10.1063/1.3143623.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3DE2-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3DE3-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Guo, X. X.1, Autor           
Matei, I.2, Autor
Jin-Phillipp, N. Y.3, 4, 5, Autor           
van Aken, P. A.5, Autor           
Maier, J.2, Autor
Affiliations:
1Former Dept. Theory of Mesoscopic Phenomena, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497656              
2Max Planck Society, ou_persistent13              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
4Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
5Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; MPI für Festkörperforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Maier;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 432258
DOI: 10.1063/1.3143623
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 105 Artikelnummer: 114321 Start- / Endseite: - Identifikator: -