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  Residual stress and strain-free lattice-parameter depth profiles in a γ’-Fe4N1-x layer on an α-Fe substrate measured by X-ray diffraction stress analysis at constant information depth

Wohlschlögel, M., Welzel, U., & Mittemeijer, E. J. (2009). Residual stress and strain-free lattice-parameter depth profiles in a γ’-Fe4N1-x layer on an α-Fe substrate measured by X-ray diffraction stress analysis at constant information depth. Journal of Materials Research, 24, 1342-1352. doi:10.1557/JMR.2009.0153.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3DD2-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3DD3-6
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wohlschlögel, M.1, Autor           
Welzel, U.1, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 430726
DOI: 10.1557/JMR.2009.0153
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Research
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 24 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1342 - 1352 Identifikator: -