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  Various transmission electron microscopic techniques to characterize phase separation – illustrated using a LaF3 containing aluminosilicate glass

Bhattacharyya, S., Höche, T., Hahn, K., & van Aken, P. A. (2009). Various transmission electron microscopic techniques to characterize phase separation – illustrated using a LaF3 containing aluminosilicate glass. Journal of Non-Crystalline Solids, 355, 393-396. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2008.12.005.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bhattacharyya, S.1, Autor           
Höche, T.2, Autor
Hahn, K.1, 3, Autor           
van Aken, P. A.3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e. V., Permoserstraße 15, D-04318 Leipzig, Germany, ou_persistent22              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 429103
DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2008.12.005
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Non-Crystalline Solids
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 355 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 393 - 396 Identifikator: -