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  Titanium–silicon oxide film structures for polarization-modulated infrared reflection absorption spectroscopy

Dunlop, I. E., Zorn, S., Richter, G., Srot, V., Kelsch, M., van Aken, P. A., et al. (2009). Titanium–silicon oxide film structures for polarization-modulated infrared reflection absorption spectroscopy. Thin Solid Films, 517, 2048-2054. doi:10.1016/j.tsf.2008.10.058.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3D50-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3D51-8
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dunlop, I. E.1, Autor           
Zorn, S.2, Autor
Richter, G.3, 4, Autor           
Srot, V.3, 5, Autor           
Kelsch, M.3, 5, Autor           
van Aken, P. A.5, Autor           
Skoda, M.2, Autor
Gerlach, A.2, Autor
Spatz, J. P.1, Autor           
Schreiber, F.6, Autor           
Affiliations:
1Dept. New Materials and Biosystems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497649              
2Institute for Applied Physics, Eberhard-Karls University of Tübingen, Auf der Morgenstelle 10, 72076 Tübingen, Germany;Physical and Theoretical Chemistry Laboratory, Oxford University, Oxford OX1 3QZ, United Kingdom;Department of Biophysical Chemistry, University of Heidelberg, INF 253, 69120 Heidelberg, Germany, ou_persistent22              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
4Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
5Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
6Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Spatz; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 397148
DOI: 10.1016/j.tsf.2008.10.058
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Thin Solid Films
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 517 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2048 - 2054 Identifikator: -