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  Low-loss EFTEM imaging of surface plasmon resonances in Ag nanostructures

van Aken, P. A., Sigle, W., Koch, C. T., Ögüt, B., Nelayah, J., & Gu, L. (2010). Low-loss EFTEM imaging of surface plasmon resonances in Ag nanostructures. Microscopy and Microanalysis, 16(Suppl. 2), 1438-1439.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag
Alternativer Titel : Microsc. Microanal.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
van Aken, P. A.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Ögüt, B.1, Autor           
Nelayah, J.1, Autor           
Gu, L.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 493462
DOI: 10.1017/S1431927610056242
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2010
Veranstaltungsort: Portland, Oregon, USA
Start-/Enddatum: 2010-08-01 - 2010-08-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 16 (Suppl. 2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1438 - 1439 Identifikator: -