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  3D Elemental mapping in nanomaterials by core-loss EFTEM tomography

Jin-Phillipp, N. Y., Koch, C. T., & van Aken, P. A. (2010). 3D Elemental mapping in nanomaterials by core-loss EFTEM tomography. Microscopy and Microanalysis, 16(Suppl. 2), 1842-1843.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C15-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C16-1
Genre: Konferenzbeitrag
Alternativer Titel : Microsc. Microanal.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jin-Phillipp, N. Y.1, 2, 3, Autor           
Koch, C. T.1, 3, Autor           
van Aken, P. A.3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 493458
DOI: 10.1017/S1431927610056357
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2010
Veranstaltungsort: Portland, Oregon, USA
Start-/Enddatum: 2010-08-01 - 2010-08-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 16 (Suppl. 2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1842 - 1843 Identifikator: -