Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Off-axis and inline electron holography: A quantitative comparison

Koch, C. T., & Lubk, A. (2010). Off-axis and inline electron holography: A quantitative comparison. Ultramicroscopy, 110, 460-471. doi:10.1016/j.ultramic.2009.11.022.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3BB6-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3BB7-1
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Lubk, A.3, Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Technische Universität Dresden,Triebenberg Lab, Zum Triebenberg 50, 01328Dresden, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 478114
DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.11.022
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 110 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 460 - 471 Identifikator: -