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  Correlating the structural, chemical, and optical properties at nanometer resolution

Gu, L., Özdöl, V. B., Sigle, W., Koch, C. T., Srot, V., & van Aken, P. A. (2010). Correlating the structural, chemical, and optical properties at nanometer resolution. Journal of Applied Physics, 107: 013501. doi:10.1063/1.3275048.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gu, L.1, Autor           
Özdöl, V. B.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Srot, V.1, 2, Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 442463
DOI: 10.1063/1.3275048
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 107 Artikelnummer: 013501 Start- / Endseite: - Identifikator: -