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  Distribution of ions near a charged selective surface in critical binary solvents

Ciach, A., & Maciolek, A. (2010). Distribution of ions near a charged selective surface in critical binary solvents. Physical Review E, 81(4): 041127. doi:10.1103/PhysRevE.81.041127.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3AE5-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3AE6-0
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Phys. Rev. E

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ciach, A.1, Autor
Maciolek, A.2, Autor           
Affiliations:
1Institute of Physical Chemistry, Polish Academy of Sciences, Kasprzaka 44/52, PL-01-224 Warsaw, Poland; Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Universität Stuttgart, Pfaffenwaldring 57, D-70569 Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
2Dept. Theory of Inhomogeneous Condensed Matter, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497643              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dietrich; Critical Phenomena;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-04-22
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 11 pages
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 476842
DOI: 10.1103/PhysRevE.81.041127
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review E
  Alternativer Titel : Phys. Rev. E
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 81 (4) Artikelnummer: 041127 Start- / Endseite: - Identifikator: -