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  Molecular heterojunction morphology on rough substrate surfaces: component separation by Fourier subtraction

Turak, A., Heidkamp, J., & Dosch, H. (2010). Molecular heterojunction morphology on rough substrate surfaces: component separation by Fourier subtraction. Nanotechnology, 21(28): 285705. doi:10.1088/0957-4484/28/285705.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Turak, A.1, Autor
Heidkamp, J.2, Autor           
Dosch, H.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch/Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-06-28
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 479773
DOI: 10.1088/0957-4484/28/285705
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nanotechnology
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 21 (28) Artikelnummer: 285705 Start- / Endseite: - Identifikator: -