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  Interface science - knowing more about less.

Rühle, M., Gemming, T., Kienzle, O., & Schweinfest, R. (1999). Interface science - knowing more about less. In Electron Microscopy and Analysing 1999 (pp. 1-8). Bristol: Institute of Physics Publishing.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3A27-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3A28-B
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kiely, C. J., Herausgeber
Rühle, M.1, Autor           
Gemming, T.1, Autor           
Kienzle, O.1, Autor           
Schweinfest, R.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1999
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 198717
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Electron Microscopy and Analysing 1999
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Bristol : Institute of Physics Publishing
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1 - 8 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Institute of Physics Conference Series
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 161 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -