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  Strain profiles in epitaxial films from X-ray Bragg diffraction phases

Vartanyants, I., Ern, C., Donner, W., Dosch, H., & Caliebe, W. (2000). Strain profiles in epitaxial films from X-ray Bragg diffraction phases. Applied Physics Letters, 77, 3929-3931.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3995-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3996-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Vartanyants, I., Autor
Ern, C.1, Autor           
Donner, W.1, Autor           
Dosch, H.1, 2, Autor           
Caliebe, W., Autor
Affiliations:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
2Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 200793
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 77 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3929 - 3931 Identifikator: -