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  New methods for diffraction stress measurement: A critical evaluation of new and existing methods

Kamminga, J.-D., de Keijser, T. H., Mittemeijer, E. J., & Delhez, R. (2000). New methods for diffraction stress measurement: A critical evaluation of new and existing methods. Journal of Applied Crystallography, 33, 1059-1066.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3935-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3936-4
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kamminga, J.-D., Autor
de Keijser, T. H., Autor
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Delhez, R., Autor
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 200636
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Crystallography
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 33 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1059 - 1066 Identifikator: -