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  Structural characterization of ZrO2 thin films produced via self-assembled monolayer-mediated deposition from aqueous dispersions

Polli, A. D., Wagner, T., Fischer, A., Weinberg, G., Jentoft, F. C., Schlögl, R., et al. (2000). Structural characterization of ZrO2 thin films produced via self-assembled monolayer-mediated deposition from aqueous dispersions. Thin Solid Films, 379, 122-127.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Polli, A. D., Autor
Wagner, T.1, Autor           
Fischer, A., Autor
Weinberg, G., Autor
Jentoft, F. C., Autor
Schlögl, R., Autor
Rühle, M.2, Autor           
Affiliations:
1Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Fritz-Haber-Institut; Abt. Rühle; Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 198972
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Thin Solid Films
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 379 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 122 - 127 Identifikator: -