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EDS study of planar faults in SrO doped SrTiO₃

Sturm, S., Recnik, A., Scheu, C., & Ceh, M. (2000). EDS study of planar faults in SrO doped SrTiO₃. In J. Gemperlova, & I. Vavra (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences (pp. 221-222). Czechoslovak Society for Electron Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-384E-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-384F-5

Genre: Konferenzbeitrag

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Externe Referenzen

Urheber

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Urheber:
Sturm, S.¹, Autor
Recnik, A., Autor
Scheu, C.¹, Autor
Ceh, M., Autor

Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;

Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2000

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 198911

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy

Veranstaltungsort: Brno/Czech Republic

Start-/Enddatum: 2000-07-09 - 2000-07-14

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences

Genre der Quelle: Konferenzband

Urheber:
Gemperlova, J., Herausgeber
Vavra, I., Herausgeber

Affiliations:
-

Ort, Verlag, Ausgabe: Czechoslovak Society for Electron Microscopy

Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 221 - 222 Identifikator: -