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  A combined approach of analytical and high-resolution TEM to determine the interface structure of Cu/(1120) α-Al2O3.

Scheu, C., Stein, W., Schweinfest, R., Wagner, T., & Rühle, M. (2000). A combined approach of analytical and high-resolution TEM to determine the interface structure of Cu/(1120) α-Al2O3. In J. Gemperlova, & I. Vavra (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy, Vol. 2: Physical Sciences (pp. 413-414). Czechoslovak Society for Electron Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-383E-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-383F-9
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scheu, C.1, Autor           
Stein, W.1, Autor           
Schweinfest, R.1, Autor           
Wagner, T.2, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 198891
Anderer: 29371
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 12th European Congress on Electron Microscopy
Veranstaltungsort: Brno/Czech Republic
Start-/Enddatum: 2000-07-09 - 2000-07-14

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy, Vol. 2: Physical Sciences
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Gemperlova, J., Herausgeber
Vavra, I., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Czechoslovak Society for Electron Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 413 - 414 Identifikator: -