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  Growth and characterization of nanostructured β-SiC via carbothermal reduction of SiO2 xerogels containing carbon nanoparticles

Meng, G. W., Cui, Z., Zhang, L. D., & Phillipp, F. (2000). Growth and characterization of nanostructured β-SiC via carbothermal reduction of SiO2 xerogels containing carbon nanoparticles. Journal of Crystal Growth, 209, 801-806.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Meng, G. W.1, Autor
Cui, Z.1, Autor
Zhang, L. D.1, Autor
Phillipp, F.2, Autor           
Affiliations:
1Laboratory of Internal Friction, Institute of Solid State Physics, Chinese Academy of Sciences, Hefei, PRChinaInstitute of Advanced Studies, University of Science and Technology of China, Hefei, PRChina, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 198871
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Crystal Growth
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 209 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 801 - 806 Identifikator: -