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  Interface-structure studies by atomic-resolution electron microscopy, order-disorder phenomena, and atomic diffusion in gas-phase-synthesized nanocrystalline solids

Schaefer, H.-E., Reimann, K., Straub, W., Phillipp, F., Tanimoto, H., Brossmann, U., et al. (2000). Interface-structure studies by atomic-resolution electron microscopy, order-disorder phenomena, and atomic diffusion in gas-phase-synthesized nanocrystalline solids. Materials Science and Engineering A, 286, 24-33.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schaefer, H.-E.1, Autor
Reimann, K.1, Autor
Straub, W.1, Autor
Phillipp, F.2, Autor           
Tanimoto, H.1, Autor
Brossmann, U.3, Autor           
Würschum, R.1, Autor
Affiliations:
1Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Universität Stuttgart, Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497657              
3Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 198718
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Science and Engineering A
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 286 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 24 - 33 Identifikator: -