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Direct strain measurements in InP/GaInP quantum dots by HREM

Jin-Phillipp, N. Y., & Phillipp, F. (2000). Direct strain measurements in InP/GaInP quantum dots by HREM. In P. Ciampor, L. Frank, J. Gemperlova, & I. Vavra (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences (pp. 299-300). Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-37BE-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-37C0-9

Genre: Konferenzbeitrag

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Externe Referenzen

Urheber

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Urheber:
Jin-Phillipp, N. Y.¹, Autor
Phillipp, F.¹, Autor

Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;

Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2000

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 46907

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 12th European Congress on Electron Microscopy (EUREM2000)

Veranstaltungsort: Brno [Czech Republic]

Start-/Enddatum: 2000-07-09 - 2000-07-14

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences

Genre der Quelle: Konferenzband

Urheber:
Ciampor, P., Herausgeber
Frank, L., Herausgeber
Gemperlova, J., Herausgeber
Vavra, I., Herausgeber

Affiliations:
-

Ort, Verlag, Ausgabe: Brno : Czechoslovak Society for Electron Microscopy

Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 299 - 300 Identifikator: -