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  Crack-tip field analyses of silicon using order (N) tight-binding method

Kugimiya, T., Shibutani, Y., & Gumbsch, P. (2001). Crack-tip field analyses of silicon using order (N) tight-binding method. In Materials Science for the 21st Century. Vol. B (pp. 285-288).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-36BE-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-36BF-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kugimiya, T., Autor
Shibutani, Y., Autor
Gumbsch, P.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 41455
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Materials Science for the 21st Century
Veranstaltungsort: Osaka, Japan
Start-/Enddatum: 2001-05-21 - 2001-05-26

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Science for the 21st Century. Vol. B
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 285 - 288 Identifikator: -