Electron microscopy study of vertical cavity surface emitting lasers

Katcki, J.; Ratajczak, J.; Phillipp, F.; Bugajski, M.; Muszalski, J.

Electron microscopy study of vertical cavity surface emitting lasers

Katcki, J., Ratajczak, J., Phillipp, F., Bugajski, M., & Muszalski, J. (2001). Electron microscopy study of vertical cavity surface emitting lasers. In A., Cullis (Ed.), Microscopy of Semiconducting Materials 2001. Proceedings of the Royal Microscopical Society Conference (pp. 493-496). Bristol: IOP Publishing Ltd.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3613-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3615-4

資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Katcki, J.¹, 著者
Ratajczak, J.¹, 著者
Phillipp, F.², 著者
Bugajski, M.¹, 著者
Muszalski, J.¹, 著者

所属:
1Inst Electr Mat Technol, Al Lotnikow 32-46, PL-02668 Warsaw,; Poland; Inst Electr Mat Technol, PL-02668 Warsaw, Poland;, ou_persistent22
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497657

内容説明

表示:

非表示:

キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Ehem. Abt. Rühle;

要旨: -

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2001

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 24326
ISI: 000176465200106

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: Microscopy of Semiconducting Materials 2001. Proceedings of the Royal Microscopical Society Conference

種別: 会議論文集

著者・編者:
Cullis, A.G., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Bristol : IOP Publishing Ltd.

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 493 - 496 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

表示:

非表示:

出版物名: Institute of Physics Conference Series

種別: 連載記事

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 169 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0951-3248

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1

出版物 2