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  QHREM study on thermal stability of stacked self-assembled InP quantum dots

Jin-Phillipp, N. Y., Zundel, M., Du, K., Phillipp, F., & Eberl, K. (2001). QHREM study on thermal stability of stacked self-assembled InP quantum dots. In A. Cullis, & J. Hutchison (Eds.), Microscopy of Semiconducting Materials 2001 (pp. 93-96).

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Jin-Phillipp, N. Y.1, Autor           
Zundel, M., Autor
Du, K.1, Autor           
Phillipp, F.1, Autor           
Eberl, K., Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie; 52-ru_2002;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 10972
ISI: 000174182400107
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy of Semiconducting Materials 2001
Veranstaltungsort: Oxford
Start-/Enddatum: 2001-03-25 - 2001-03-29

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy of Semiconducting Materials 2001
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Cullis, A.G., Herausgeber
Hutchison, J.L., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 93 - 96 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Institute of Physics conference series
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Institute of Physics, Herausgeber              
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 169 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0021-8979