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  X-ray and neutron scattering study of Si-rich Si-Ge single crystals

Le Bolloc'h, D., Robertson, J. L., Reichert, H., Moss, S. C., & Crow, M. L. (2001). X-ray and neutron scattering study of Si-rich Si-Ge single crystals. Physical Review B, 63: 035204.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3593-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3594-0
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Phys. Rev. B

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Le Bolloc'h, D.1, Autor
Robertson, J. L.1, Autor
Reichert, H.2, Autor           
Moss, S. C.1, Autor
Crow, M. L.1, Autor
Affiliations:
1European Synchrotron Radiat Facil, BP 220, F-38043 Grenoble,; France; Univ Houston, Dept Phys, Houston, TX 77204 USA; Oak Ridge Natl Lab, Div Solid State, Oak Ridge, TN 37831 USA;, ou_persistent22              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001-01-15
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 21805
ISI: 000166608600046
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
  Alternativer Titel : Phys. Rev. B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 63 Artikelnummer: 035204 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0163-1829