A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in 
situ x-ray diffraction measurements

Ritley, K. A.; Krause, B.; Schreiber, F.; Dosch, H.

A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements

Ritley, K. A., Krause, B., Schreiber, F., & Dosch, H. (2001). A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements. Review of Scientific Instruments, 72(2), 1453-1457.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-357F-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3580-B

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : Rev. Sci. Instrum.

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Ritley, K. A.¹, 著者
Krause, B.¹, 著者
Schreiber, F.², 著者
Dosch, H.^{1, 3}, 著者

所属:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
2Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2001-02

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 21800
ISI: 000166688500036

学位: -

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出版物名: Review of Scientific Instruments

出版物の別名 : Rev. Sci. Instrum.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 72 (2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1453 - 1457 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0034-6748

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