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  Hardness-depth profiling on nanometer scale

Kunert, M., Baretzky, B., Baker, S. P., & Mittemeijer, E. J. (2001). Hardness-depth profiling on nanometer scale. Metallurgical and Materials Transactions A-Physical Metallurgy and Materials Science, 32(5), 1201-1209.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Metall. Mater. Trans. A-Phys. Metall. Mater. Sci.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kunert, M.1, Autor           
Baretzky, B.1, 2, Autor           
Baker, S. P.3, Autor
Mittemeijer, E. J.1, 4, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
3Cornell Univ, Dept Mat Sci & Engn, Ithaca, NY 14853 USA, ou_persistent22              
4Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001-05
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 21408
ISI: 000168519600017
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Metallurgical and Materials Transactions A-Physical Metallurgy and Materials Science
  Alternativer Titel : Metall. Mater. Trans. A-Phys. Metall. Mater. Sci.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 32 (5) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1201 - 1209 Identifikator: ISSN: 1073-5623