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  Quantitative atomic-scale analysis of interface structures: Transmission electron microscopy and local density functional theory

Nufer, S., Marinopoulos, A. G., Gemming, T., Elsässer, C., Kurtz, W., Köstlmeier, S., et al. (2001). Quantitative atomic-scale analysis of interface structures: Transmission electron microscopy and local density functional theory. Physical Review Letters, 86(22), 5066-5069.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-34EC-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-34ED-5
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Phys. Rev. Lett.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Nufer, S.1, Autor           
Marinopoulos, A. G.1, Autor           
Gemming, T.1, Autor           
Elsässer, C.1, Autor           
Kurtz, W.1, Autor           
Köstlmeier, S.1, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Ehem. Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001-05-28
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 21388
ISI: 000169013600022
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
  Alternativer Titel : Phys. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 86 (22) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 5066 - 5069 Identifikator: ISSN: 0031-9007