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  Materials analysis with monolayer depth resolution using MeV ion beams

Carstanjen, H. D. (2001). Materials analysis with monolayer depth resolution using MeV ion beams. Journal of Materials Processing Technology, 117(Special Volume): (CD-ROM).

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Carstanjen, H. D.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Central Scientific Facility Pelletron Accelerator, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497653              
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001-10
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 200515
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: International Conference on Processing & Manufacturing of Advanced Materials, THERMEC 2000
Veranstaltungsort: Las Vegas, USA
Start-/Enddatum: 2000-12-04 - 2000-12-08

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Processing Technology
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 117 (Special Volume) Artikelnummer: (CD-ROM) Start- / Endseite: - Identifikator: -