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  Dislocation Mechanisms Controlling Plasticity in Thin Al and Cu Films Constrained by Substrates

Dehm, G., Balk, T. J., & Arzt, E. (2002). Dislocation Mechanisms Controlling Plasticity in Thin Al and Cu Films Constrained by Substrates. In J. Engelbrecht, T. Sevell, M. Witcomb, R. Cross, & P. Richards (Eds.), Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM 15). Vol. 1. Physics and Materials (pp. 927-928). Onderstepoort: Microscopy Society of Southern Africa.

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:
34-ar_2002.pdf (Zusammenfassung), 48KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
34-ar_2002.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Intelligent Systems, MSMT; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, G.1, Autor           
Balk, T. J.1, Autor           
Arzt, E.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; 34-ar_2002;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 14240
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: ICEM 15. 15th International Congress on Electron Microscopy
Veranstaltungsort: Durban, South Africa
Start-/Enddatum: 2002-09-01 - 2002-09-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM 15). Vol. 1. Physics and Materials
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Engelbrecht, J., Herausgeber
Sevell, T., Herausgeber
Witcomb, M., Herausgeber
Cross, R., Herausgeber
Richards, P., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Onderstepoort : Microscopy Society of Southern Africa
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 927 - 928 Identifikator: -