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  The SESAM Project - Present State and Applications

Sigle, W., Krämer, S., Zern, A., Cai, Y., Eigenthaler, U., Hahn, K., & Rühle, M. (2002). The SESAM Project - Present State and Applications. In J., Engelbrecht, T., Sevell, M., Witcomb, R., Cross, & P., Richards (Eds.), Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 1 (pp. 329-330). Onderstepoort: Microscopy Society of Southern Africa.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32B2-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32B3-4
資料種別: 会議論文

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関連URL

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作成者

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 作成者:
Sigle, W.1, 2, 著者           
Krämer, S.1, 著者           
Zern, A.1, 著者           
Cai, Y.3, 著者           
Eigenthaler, U.1, 4, 著者           
Hahn, K.1, 2, 著者           
Rühle, M.1, 著者           
所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Former Dept. Materials Synthesis and Microstructure Design, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497654              
4Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 67-ru_2002;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2002
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 11075
 学位: -

関連イベント

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イベント名: ICEM 15. 15th International Congress on Electron Microscopy
開催地: Durban [South Africa]
開始日・終了日: 2002-09-01 - 2002-09-06

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 1
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Engelbrecht, J., 編集者
Sevell, T., 編集者
Witcomb, M., 編集者
Cross, R., 編集者
Richards, P., 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: Onderstepoort : Microscopy Society of Southern Africa
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 329 - 330 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -