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  Internal friction of copper thin layers on silicon substrates

von der Hagen, J., Weller, M., & Arzt, E. (2002). Internal friction of copper thin layers on silicon substrates. Defect and Diffusion in Metals: An Annual Retrospective IV, 285-288.

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19-ar_2002.pdf (Zusammenfassung), 65KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
19-ar_2002.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Intelligent Systems, MSMT; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
von der Hagen, J.1, Autor           
Weller, M.1, Autor           
Arzt, E.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; 19-ar_2002; copper films; core diffusion; dislocation relaxation; internal friction
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 6866
ISI: 000175228400028
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Defect and Diffusion in Metals: An Annual Retrospective IV
Genre der Quelle: Heft
 Urheber:
Fisher, D. J., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 285 - 288 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Diffusion and Defect Forum
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 203-205 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -