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  Stress in thin films; Diffraction elastic constants and grain interaction

Welzel, U., Leoni, M., Lamparter, P., & Mittemeijer, E. J. (2002). Stress in thin films; Diffraction elastic constants and grain interaction. Journal of Materials Science & Technology, 18(2), 121-124.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-31D6-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-31D7-B
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Mater. Sci. Technol.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Welzel, U.1, Autor           
Leoni, M., Autor
Lamparter, P.1, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer; 6-mi_2002; thin film; elastic constant; grain interaction; X-ray diffraction
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-03
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 6890
ISI: 000174881400007
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Science & Technology
  Alternativer Titel : J. Mater. Sci. Technol.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 18 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 121 - 124 Identifikator: ISSN: 1005-0302