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  Submicron X-ray diffraction and its applications to problems in materials and environmental science.

Tamura, N., Celestre, R. S., MacDowell, A. A., Padmore, H. A., Spolenak, R., Valek, B. C., et al. (2002). Submicron X-ray diffraction and its applications to problems in materials and environmental science. Review of Scientific Instruments, 73(3), 1369-1372.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Tamura, N., Autor
Celestre, R. S., Autor
MacDowell, A. A., Autor
Padmore, H. A., Autor
Spolenak, R.1, Autor           
Valek, B. C., Autor
Chang, N. M., Autor
Manceau, A., Autor
Patel, J. R., Autor
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-03-03
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 55945
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Review of Scientific Instruments
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 73 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1369 - 1372 Identifikator: -