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  Investigation of self-assembled InP-GaInP quantum dot stacks by transmission electron microscopy

Fantini, A., Phillipp, F., Kohler, C., Porsche, J., & Scholz, F. (2002). Investigation of self-assembled InP-GaInP quantum dot stacks by transmission electron microscopy. Journal of Crystal Growth, 244(2), 129-135.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2FEF-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2FF1-2
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Cryst. Growth

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Fantini, A.1, Autor
Phillipp, F.2, Autor           
Kohler, C.2, Autor           
Porsche, J.1, Autor
Scholz, F.1, Autor
Affiliations:
1Univ Stuttgart, Inst Phys 4, Pfaffenwaldring 57, D-70550; Stuttgart, Germany; Univ Stuttgart, Inst Theoret & Angew Phys, D-70550 Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Ehem. Abt. Rühle; 42-ru_2002; antiphase boundaries; quantum islands; strain; transmission electron microscopy (TEM); metalorganic vapor phase epitaxy (MOVPE); InP
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-10
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 6701
ISI: 000178208300001
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Crystal Growth
  Alternativer Titel : J. Cryst. Growth
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 244 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 129 - 135 Identifikator: ISSN: 0022-0248