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  Creep behavior and microstructural changes during short-term creep in a gamma-TiAl based alloy with fully lamellar microstructure

Chatterjee, A., Clemens, H., Dehm, G., Mecking, H., & Arzt, E. (2003). Creep behavior and microstructural changes during short-term creep in a gamma-TiAl based alloy with fully lamellar microstructure. In Y. W. Kim, & H. R. Clemens A. H. (Eds.), Gamma Titanium Aluminides 2003 (pp. 425-430). Warrendale, PA: TMS.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Chatterjee, A.1, Autor           
Clemens, H.1, Autor           
Dehm, G.1, Autor           
Mecking, H.2, Autor
Arzt, E.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Montanuniversität Leoben, Austria; Institut für Werkstoffphysik und -technologie, TU Hamburg-Haarburg, ou_persistent22              
3Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 175340
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Gamma Titanium Aluminides 2003
Veranstaltungsort: San Diego, Calif.
Start-/Enddatum: 2003-03-02 - 2003-03-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Gamma Titanium Aluminides 2003
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Kim, Y. W., Herausgeber
Clemens A. H., H. Rosenberger, Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Warrendale, PA : TMS
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 425 - 430 Identifikator: -